Com a preciosa colaboração dos técnicos da ANACOM, no Laboratório de Barcarena, iniciaram-se hoje os ensaios de Compatibilidade Eletromagnética (CEM) de alguns subsistemas do ISTsat-1. Optou-se por começar com os testes de suscetibilidade (SEM) em que se usaram 2 valores de campo elétrico (1 V/m e 10 V/m) para irradiar o sistema inicial composto pela EPS, COM e OBC, montados na estrutura de suporte designada por Flat Sat (permite colocar as placas lado a lado mas interligadas).
COM – Processador de comunicações do ISTnanosat-one.
Começou-se por usar radiação incidente segundo o eixo dos YY (foto 1 e vídeo 1). A EPS alimentava o COM e o OBC, em duas saídas independentes com as tensões de 3,3 V, e duas cargas resistivas noutras saídas de 3,3 V e 5 V, com correntes da ordem dos 400 mA em ambas; as tensões e correntes nas cargas resistivas eram monitoradas por aparelhos analógicos de quadro móvel do Museu Faraday (o mais básicos possível para garantir que não eram os aparelhos a serem ensaiados). O funcionamento dos processadores e da EPS eram visíveis através de programas de teste que acionavam LEDs em cada placa. A imagem do sistema captada por uma camara de vídeo era visualizada na sala de controlo da camara de ensaios eletromagnéticos.
Os ensaios consistiram na utilização de uma gama de frequências entre 30 MHz e 1 GHz para a intensidade de campo de 1 V/m e de 30 MHz a 220 MHz para a intensidade de 10V/m (o amplificador do sistema de ensaio não funcionou a partir desta frequência). Fizeram-se ensaios tanto em polarização horizontal como vertical, usando dois tipos de antenas emissoras colocadas a um metro do sistema ISTsat-one.
O resultado do ensaio foi positivo já que não houve variações das leituras
dos aparelhos de medida e os LEDs piscaram sempre corretamente ao longo do ensaio, em particular na frequência em que o TTC vai emitir (≈ 145,85MHz).
No final dos ensaios notou-se uma anomalia no processador OBC, com a intensidade de campo de 10 V/m, cuja origem ainda está por identificar mas deu para verificar que os mecanismos de recuperação do processador funcionavam corretamente. Este assunto vai poder ser esclarecidos nos próximos ensaios.
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